涂層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)

涂層測(cè)厚儀是一種能夠快速、無(wú)損傷、高精密地進(jìn)行涂層、油漆、鍍層的厚度測(cè)量，在了解涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)前，我們需要知道它的涂層測(cè)厚儀原理，涂層測(cè)厚儀主要分為兩種測(cè)量方式，一種是磁性（霍爾效應(yīng)），另外一種是渦流效應(yīng)，而儀器可以是單磁性，單渦流，也可以是磁性渦流一體。而每一種測(cè)量方式都有其對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法:

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀器無(wú)損測(cè)量磁性金屬基體上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆蓋層厚度的方法。該方法適用于平試樣上的測(cè)量。不適用于非磁性基體上覆蓋層的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2178-1982((磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度的磁性祖叮里方法》。

GB/T4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法:

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀器無(wú)損測(cè)量磁性金屬基體上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆蓋層厚度的方法。該方法適用于平試樣上的測(cè)量。不適用于非磁性基體上覆蓋層的測(cè)量。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2178-1982((磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度的磁性祖叮里方法》。

JJG889─1995《磁阻法測(cè)厚儀》:

本規(guī)定適用于新制造、使用中和維修后的磁阻法測(cè)厚儀的檢定。

JJG818─93《電渦流式測(cè)厚儀》：

本規(guī)定適用于新制造、使用中和維修后的電渦流式測(cè)厚儀的檢定。

GB/T4957─1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法：

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用渦流儀器無(wú)損測(cè)最非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法。該方法適用于側(cè)聳大多數(shù)陽(yáng)極氧化覆蓋層的厚度，但不適用于測(cè)最所有薄的轉(zhuǎn)化膜。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2360-1982《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的渦流測(cè)量方法》。